定义#

ESD(Electrostatic Discharge)：静电放电 标准定义<根据gb>/T4365-2003电工术语电磁兼容对静电放电的定义<具有不同静电电位的物体靠近或者接触引起的电荷转移>。 通用定义<两个具有不同静电电位的物体>,由于直接接触或者靠近引起两物体间电荷传递。电荷传递的能量达到一定程度后,击穿其间介质而进行放电的现象就是静电放电。

背景#

静电放电 (ESD) 和静电过载 (EOS) 事件可能发生在任何环节，例如制造和装配工艺区域、生产测试环境、运输和现场应用等。
EOS 和 ESD 可能由用户应用中的瞬态、过大电源电流、接地不良、电源电压与地之间的低电阻路径、引脚短路以及电路内部损坏引起。如果 IC 暴露于超出数据手册规格的条件下，最终可能会失效。在数据手册规格范围内工作时，组件的内部条件不会产生 EOS 损坏，因此只有在存在异常条件时才会发生。由于接地不当，测试和操作设备会积聚静电，这些静电会在接触 IC 时传输到 IC 中。 半导体器件包含 ESD 保护电路。为了确保其有效性和可靠性符合 JEDEC 标准，需要进行 ESD 测试以确保器件符合要求。ESD 测试主要有三种模型：人体放电模型 (HBM)、带电器件放电模型 (CDM) 和机器放电模型 (MM)。

HBM(Human Body Model，人体放电模型)#

人体放电模型（HBM）是指因人体在地面走路、衣物磨擦，或其它因素，以致在人体上累积了相当数量的静电荷，当人体碰触到IC时，静电便会经由IC的脚位而进入IC内，再经由IC放电到接地端(ground)。

其中，n 为每秒步数，C 为人体电容。考虑绝缘地板上的典型情况，人每走一步，电压 ΔV 增加 300 V，10 秒内达到约 3 kV。（注意：会发生一些电荷泄漏。） 对于人体放电模型 (HBM) 测试，有一个简单的串联 RC 网络来模拟人体放电。使用一个 1 MΩ 电阻对一个 100 pF 电容充电。使用一个 1.5 kΩ 电阻进行放电。人体放电模型 (HBM) 事件的破坏性最强，上升时间较快。因此，需要快速上升时间脉冲来更精确地模拟人体放电事件。 放电电流 i (t) 定义为：